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乾溢電子
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C200L全自動硅片分選系統(tǒng)
DUORES手持式面電阻測試儀
設計精密，靈巧，便捷，將四探針及渦電流兩種技術集成在一臺設備上進行使用。
試方式
（1）非接觸式探頭（渦電流測試法）
（2）接觸式探頭（四探針測試法）
探頭觸碰到樣品時就會自動開始測量可以長達24小時的測量,時間最多顯示100組測量數(shù)據(jù),最多儲存50,000組測試數(shù)據(jù)可通過USB-MINI將測量數(shù)據(jù)導出測量數(shù)據(jù)顯示4位數(shù)的浮動小數(shù)點測試結果單位：Ω/sq，s/sq，n/m
產(chǎn)品規(guī)格：可測量任意尺寸和形狀的樣品 (必須大于測量探頭的覆蓋范圍) <測量探頭覆蓋范圍> 非接觸式探頭(渦電流法)?:?φ25mm 接觸式探頭(4探針法)?:?3mm 測量范圍非接觸式探頭(渦電流法)?:?0.5?- 200?Ω/sq 接觸式探頭(4探針法)?:?0.001?-?4000?Ω/sq
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